透射電鏡

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更新日期：2023-03-20
產(chǎn)品介紹：Thermo Scientific Talos F200i S/TEM 透射電鏡是賽默飛用于高分辨率成像和分析應(yīng)用的場發(fā)射掃描/透射電子顯微鏡，其電壓范圍為20到200 kV，是專為滿足各種材料科學(xué)樣品和樣品的性能和效率而設(shè)計的。
廠商性質(zhì)：代理商

產(chǎn)品介紹

品牌	FEI/賽默飛	價格區(qū)間	面議
儀器種類	場發(fā)射	應(yīng)用領(lǐng)域	電子/電池

Thermo Scientific Talos F200i S/TEM 透射電鏡是賽默飛用于高分辨率成像和分析應(yīng)用的場發(fā)射掃描/透射電子顯微鏡，其電壓范圍為20到200 kV，是專為滿足各種材料科學(xué)樣品和樣品的性能和效率而設(shè)計的。現(xiàn)可提供對稱布置的雙100 mm2 Racetrack 檢測器“( Dual-X”)，以大限度提高分析通量。

Talos F200i標(biāo)準(zhǔn)的 X-TWIN 物鏡極靴間距在應(yīng)用中具有大靈活性，結(jié)合高再現(xiàn)性能的鏡筒設(shè)計，可支持高分辨率二維和三維表征分析、原位動態(tài)觀測及電子衍射應(yīng)用。Talos F200i 還配備了 4k × 4k Ceta 16M 相機，可在 64 位平臺上提供大視場、高靈敏度快速成像。

Talos F200i S/TEM 專為多用戶和多學(xué)科環(huán)境設(shè)計，并配備了可在所有賽默飛 TEM 平臺使用的Thermo Scientific™ Velox™ 用戶界面，對于新用戶來說也非常友好。此外，所有 TEM 日常調(diào)整都已經(jīng)自動化，以提供可重復(fù)的日常設(shè)置。自動調(diào)節(jié)功能簡化了初學(xué)者的學(xué)習(xí)過程，減少了多用戶環(huán)境中的緊張關(guān)系，并使有經(jīng)驗的操作員可以在較短時間內(nèi)獲取數(shù)據(jù)信息。

產(chǎn)品參數(shù)
TEM 線分辨率	≤ 0.10 nm
LACBED 大會聚角	≥ 100 mrad
大衍射角	24°
STEM 分辨率	≤ 0.16 nm
EDS	側(cè)插式，可伸縮
電子槍類型	場發(fā)射槍或高亮度場發(fā)射槍

樣品操作
Z 軸移動總行程 (標(biāo)準(zhǔn)樣品桿)	± 0.375 mm
三維重構(gòu)樣品桿大 α 傾轉(zhuǎn)角 (高視野樣品桿)	± 90°
樣品漂移 (標(biāo)準(zhǔn)樣品桿)	≤ 0.5 nm/min

透射電鏡關(guān)鍵優(yōu)勢

雙 EDS 技術(shù)可實現(xiàn)。從單 30 mm²探頭到可實現(xiàn)高通量 (或低劑量)分析的雙 100 mm²探頭，可根據(jù)您的需求

選擇 EDS。

高質(zhì)量 S/TEM 圖像和準(zhǔn)確的 EDS。借助創(chuàng)新直觀的 Velox 軟件用戶界面，可通過極其簡單的操作方法，獲得高質(zhì)量 TEM 或 S/TEM 圖像。Velox 軟件內(nèi)置的*的 EDS 吸收校準(zhǔn)功能可實現(xiàn)準(zhǔn)確的定量分析。

原位動態(tài)分析功能。可加裝三維重構(gòu)或原位分析樣品桿、高速相機、智能軟件。 X-TWIN 大物鏡間距可實現(xiàn)三維成像和原位數(shù)據(jù)采集，同時大限度避免分辨率和分析能力的損失。

提高生產(chǎn)效率。超穩(wěn)定鏡筒設(shè)計；借助 SmartCam 實現(xiàn)遠程操作；物鏡功率恒定，可實現(xiàn)快速電鏡模式和高壓切換；并可輕松、快速切換多用戶環(huán)境。

可重復(fù)性的可靠數(shù)據(jù)。所有日常 TEM 合軸，例如聚焦、中心高度調(diào)節(jié)、電子束偏轉(zhuǎn)、聚光鏡光闌對中、電子束傾斜樞軸點以及旋轉(zhuǎn)中心調(diào)整都是自動完成的，以確保用戶總是從成像條件開始。實驗可多次重復(fù)，因而用戶可以更多關(guān)注研究課題而不再糾結(jié)于電鏡操作。